1、兩者的測(cè)試原理不同:直讀光譜儀是用電?。ɑ鸹ǎ┑母邷厥箻悠分懈鞣N元素從固態(tài)直接氣化并被激發(fā)而射出各元素的特征波長(zhǎng),經(jīng)光柵分光后,成為按波長(zhǎng)排列的“光譜",這些元素的特征光譜線通過(guò)出射狹縫,射入各自的光電倍增管,光信號(hào)變成電信號(hào),經(jīng)儀器的控制測(cè)量系統(tǒng)將電信號(hào)積分并進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換,然后由計(jì)算機(jī)處理,并計(jì)算出各元素的百分含量。X熒光光譜儀用X射線照射試樣,試樣可以被激發(fā)出各種波長(zhǎng)的熒光X射線,需要把混合的X射線按波長(zhǎng)(或能量)分開(kāi),分別測(cè)量不同波長(zhǎng)(或能量)的X射線的強(qiáng)度,以進(jìn)行定性和定量分析。由于X光具有一定波長(zhǎng),同時(shí)又有一定能量,因此,X射線熒光光譜儀有兩種基本類(lèi)型:波長(zhǎng)色散型和能量色散型。
2、直讀光譜儀要求試樣具有導(dǎo)電性,且只能是固體樣品,簡(jiǎn)單地說(shuō)就是直讀只能分析金屬固體樣品中的元素。而X射線熒光光譜儀對(duì)樣品要求不高,可以分析粉末樣品、固體樣品、液體樣品,不需要樣品具有導(dǎo)電性,金屬及非金屬樣品均可分析,XRF還可量測(cè)鹵素,用于測(cè)試RoHS中管制的元素分析,可以看出X熒光光譜儀適用范圍更廣,適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)。
3、直讀激發(fā)測(cè)試完樣品之后會(huì)破壞樣品表面,X熒光是無(wú)損檢測(cè),測(cè)試完成后樣品不會(huì)發(fā)生變化。